製品紹介


film-150

膜厚測定装置-反射光学方式-


Ⅰ. 概要

反射光学方式の膜厚測定装置です。手軽に超薄膜から厚膜までの膜厚測定が可能です。(PCは含まれません)

Ⅱ. 仕様

  1. 測定膜厚:10nm~50μm(分解能1nm)
  2. 分光器:AvaSpec-ULS2048CL-EVO-UA-50(200-1100nm 分解能2.5nm)
  3. ソフトウェア:AvaSoft-All
  4. 測定スポット:1mmΦ
  5. 光源:AvaLight-DHc(重水素-ハロゲンランプ)

構成図
構成図
film-150 本体
film-150 本体